GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
最近更新 2024年01月19日
资源编号 13183

GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

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信息属性
  • 名称
  • 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
  • 图集标准编号
  • GB/T 43063-2023
  • 发布日期
  • 2023-09-07
  • 实施日期
  • 2024-01-01
  • 图集标准编号
  • GB/T 43063-2023
  • 标准状态
  • 现行(*非即时更新以实际为准)
详情介绍

GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

标准编号:GB/T 43063-2023

规范名称:集成电路 CMOS图像传感器测试方法

该国家标准描述了具有线性光电响应特性的线阵、而阵和时间延迟积分(TDI)CMOS图像传感器(以下简称器件)参数及其测试方法。

该国家标准适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。

全国半导体器件标准化技术委员会

起草单位:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、天津大学、中国电子技术标准化研究院、重庆光电技术研究所、长春精测光电技术有限公司、深圳佑驾创新科技有限公司

起草人:李俊霖、张涛、赵宇、聂真威、马洪涛、卢岩、唐延甫、聂凯明、马悦、刘国清、兰太吉、杨永强、韩冰、金辉、徐江涛、刘昌举、李金、高志远、王琪、刘秀娟

GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法(图)

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