T/XAI 12-2021 覆晶薄膜基板电气检查测试方法

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信息属性
  • 名称
  • 覆晶薄膜基板电气检查测试方法
  • 图集标准编号
  • T/XAI 12-2021
  • 发布日期
  • 2021-12-06
  • 实施日期
  • 2021-12-10
  • 图集标准编号
  • T/XAI 12-2021
  • 标准状态
  • 现行(*非即时更新以实际为准)
详情介绍

T/XAI 12-2021 覆晶薄膜基板电气检查测试方法

标准编号:T/XAI 12-2021

规范名称:覆晶薄膜基板电气检查测试方法

该国家标准规定了覆晶薄膜基板电气测试原理、测试条件、测试方法、测试结果评定和测试报告等要求,描述了电气检查测试过程,给出了测试结果要求。

该国家标准适用于覆晶薄膜基板的电气检查。

起草单位:江苏上达半导体有限公司、武汉大学、江苏华商企业管理咨询服务有限公司

起草人:刘明寒、计晓东、陆文、王健、杨洁、孙彬、李辉、盛家正、陈鹏、孟庆才

批准发布部门:徐州市发明协会

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